原子层沉积生长速率的控制研究进展
卢维尔1, 董亚斌1,2, 李超波1, 夏洋1, 李楠1

Research Progress on Growth Rate Controlling of Atomic Layer Deposition
LU Wei-Er1, DONG Ya-Bin1,2, LI Chao-Bo1, XIA Yang1, LI Nan1
图6 不同等离子体处理与没有前处理的蓝宝石a和硅衬底表面ALD b沉积的ZnO膜厚随循环数的变化 [ 29 ]
Fig. 6 Change of the thickness of the ZnO thin film deposited on sapphire a and silicon b substrates pretreated with different plasmas with ALD cycle number [ 29 ]