4H-SiC高速同质外延研究
朱明星1,2, 石彪1,2, 陈义1, 刘学超1, 施尔畏1

High-speed Homoepitaxial Growth of 4H-SiC
ZHU Ming-Xing1,2, SHI Biao1,2, CHEN Yi1, LIU Xue-Chao1, SHI Er-Wei1
图6 外延膜表面的三角形缺陷产生示意图
Fig. 6 Schematic diagram of the origin of triangle surface defects