[1]Matsuoka M. Jpn. J. Appl. Phys., 1971, 10(6): 736-746. [2]Gupta T K. J. Am. Ceram. Soc., 1990, 73(7): 1817-1840. [3]Mahan G D, Levinson L M, Philipp H R. Appl. Phys. Lett., 1978, 33(9): 830-832. [4]Bartkowiak M, Mahan G D, Modine F A, et al. J. Appl. Phys., 1996, 79(1): 273-281. [5]Pianaro S A, Bueno P R, Longo E, et al. J. Mater. Sci. Lett., 1995, 14(10): 692-694. [6]Bueno P R, Pianaro S A, Pereira E C, et al. J. Appl. Phys., 1998, 84(7): 3700-3705. [7]Bueno P R, CassiaSantos M R, Leite E R, et al. J. Appl. Phys., 2000, 88(11): 6545-6548. [8]Bueno P R, Leite E R, Oliveira M M, et al. Appl. Phys. Lett., 2001, 79(1): 48-50. [9]Vasconcelos J S, Vasconcelos N S L S, Orlandi M O, et al. Appl. Phys. Lett., 2006, 89(15): 152102-1-3. [10]李长鹏, 王矜奉, 陈洪存, 等.压电与声光, 2001, 23(4): 309-312. [11]李长鹏, 王矜奉, 陈洪存, 等. 压电与声光, 2001, 23(5): 362-365. [12]亓 鹏, 王矜奉, 陈洪存, 等.电子元件与材料, 2002,21(11): 1-6. [13]王春明, 王矜奉, 陈洪存, 等.压电与声光, 2004, 26(2): 139-145. [14]王矜奉, 陈洪存, 王文新, 等.电子元件与材料, 2003, 22(4): 8-10. [15]明保全, 王矜奉, 陈洪存, 等. 电子元件与材料, 2004, 23(6): 20-27. [16]Bartkowiak M, Mahan G D, Modine F A, et al. J. Appl. Phys., 1996, 79(1): 273-281. |