一种测定晶体取向及其分布的简便XRD方法

无机材料学报

一种测定晶体取向及其分布的简便XRD方法

郭振琪¹; 王宁¹; 付涛²; 傅恒志³

1. 西北大学分析测试研究中心, 西安 710069; 2. 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室, 西安 710049; 西北工业大学凝固技术国家重点实验室, 西安 710072

收稿日期:2001-05-14 修回日期:2001-06-14 出版日期:2002-05-20 网络出版日期:2002-05-20

A Simple XRD Method for Determining Crystal Orientation and ItsDistribution

GUO Zhen-Qi¹; FU Tao²; WANG Ning¹; FU Heng-Zhi³

1. Instrumental Analysis Research Center; Northwest University; Shanxi 710069; China; 2. State Key Laboratory for Mechanical Behavior of Materials. Xi an Jiaotong University; Xi an 710049; 3. State Key Laboraty of Solidification Processing, Northwest Polytechnical University, Xi'an 710072, China

Received:2001-05-14 Revised:2001-06-14 Published:2002-05-20 Online:2002-05-20

摘要/Abstract

摘要： 提出了旋转定向测试法,其原理是使试样在粉末Ｘ射线衍射仪上进行θ扫描的同时绕其端面法线自转,增加了晶面法线通过衍射平面的机会．通过这种方法可直观地区分取向多晶、准单晶或者单晶体,评定研制过程中准单晶和择优取向材料的晶体品质;确定单晶、准单晶及择优取向等材料的晶面相对宏观端面的晶向偏离角和取向分散度;还可对单晶体材料进行三维晶面定向．旋转定向法测试晶体取向具有快速简便、一机多用、精度高等优点,在电子、光学、磁性、机械等材料研究领域具有广泛的应用．

关键词: 晶体材料, 晶体取向, X射线衍射

Abstract: The principle of Rotating specimen for determining crystal Orientation XRD (RO-XRD) testing method presented in
this paper is rotating the specimen along its surface normal axle during the θ scanning to increase the chances for the normal axle of a crystal
plane to cross the diffraction plane on a powder X-ray diffractionmeter. Orientated polycrystal, quasi-single crystal or single-crystal materials can
be easily distinguished, and the crystal quality of quasi-single and orientated crystal materials in processing can be picturesquely assessed
by this method. The deviation angle of the crystal plane from the macro surface and the scattering degree of the crystal orientation of single
crystal, quasi single crystal and orientated crystal materials can be measured, which makes it possible to define the three dimensional crystal
plane directions of a single crystal material by this method. The RO-XRD method is simple, quick, adaptable and precise for measuring crystal
orientation, therefore, it has wide potential applications in the fields related to electronic, optical, magnetic materials and engineering
materials.

Key words: crystal material, crystal orientation, X-ray diffraction

中图分类号:

O722

郭振琪,王宁,付涛,傅恒志. 一种测定晶体取向及其分布的简便XRD方法[J]. 无机材料学报.

GUO Zhen-Qi,FU Tao,WANG Ning,FU Heng-Zhi. A Simple XRD Method for Determining Crystal Orientation and ItsDistribution[J]. Journal of Inorganic Materials.

[1]	杨卓, 卢勇, 赵庆, 陈军. X射线衍射Rietveld精修及其在锂离子电池正极材料中的应用[J]. 无机材料学报, 2023, 38(6): 589-605.
[2]	李淑芳, 赵爽, 李满荣. 助熔剂法合成钨氧氯化合物Li₂₃CuW₁₀O₄₀Cl₅[J]. 无机材料学报, 2020, 35(7): 834-838.
[3]	程国峰, 阮音捷, 孙玥, 尹晗迪. 纯相BiFeO₃的热稳定和热膨胀性质研究[J]. 无机材料学报, 2019, 34(10): 1128-1133.
[4]	程国峰, 阮音捷, 孙玥, 尹晗迪, 解其云. 元素配比对BiFeO₃反应烧结相变影响的高温X射线衍射研究[J]. 无机材料学报, 2019, 34(10): 1035-1040.
[5]	姜文龙, 周伟, 应纪飞, 杨铁莹, 高延敏. ZnO/GO纳米材料基热稳定钙钛矿太阳能电池[J]. 无机材料学报, 2017, 32(1): 96-100.
[6]	高延敏, 姜文龙, 杨铁莹, 左银泽. 高稳定性(EDA)(FA)₂[Pb₃I₁₀]层状钙钛矿薄膜的制备与表征[J]. 无机材料学报, 2016, 31(10): 1129-1134.
[7]	崔潆心, 徐明升, 徐现刚, 胡小波. 高分辨X射线衍射表征氮化镓外延层缺陷密度[J]. 无机材料学报, 2015, 30(10): 1094-1098.
[8]	熊小庆, 袁观明, 李轩科, 董志军, 张中伟, 王俊山. 不同晶体取向中间相沥青基带状炭纤维的制备与表征[J]. 无机材料学报, 2014, 29(11): 1186-1192.
[9]	胡冬力, 邢娟娟, 郑强, 顾辉, 倪德伟, 张国军. HfB₂-SiC-HfC陶瓷相组成与相成分定量分析的对比研究[J]. 无机材料学报, 2014, 29(10): 1105-1109.
[10]	郑强, 王贤浩, 邢娟娟, 顾辉, 张国军. ZrB₂-SiC-ZrC复相超高温陶瓷相组成的定量分析[J]. 无机材料学报, 2013, 28(4): 358-362.
[11]	丁佳钰, 肖瑗, 王哲飞, 王丽熙, 张其土,. 添加剂对Y₂Ti₂O₇陶瓷的微波介电性能的影响[J]. 无机材料学报, 2011, 26(3): 327-331.
[12]	原子健,朱夏明,王雄,张莹莹,万正芬,邱东江,吴惠桢,杜滨阳. 氧化铟薄膜制备及其特性研究[J]. 无机材料学报, 2010, 15(2): 141-144.
[13]	张熙贵,张建,杨传铮,李佳. LiMeO₂材料中锂和镍原子混排的模拟和实验研究[J]. 无机材料学报, 2010, 25(1): 8-12.
[14]	刘忠良,刘金锋,任鹏,李锐鹏,徐彭寿,潘国强. 3C-SiC/Si(111)的掠入射X射线衍射研究[J]. 无机材料学报, 2008, 23(5): 928-932.
[15]	孙柏,李锐鹏,赵朝阳,徐彭寿,张国斌,潘国强,陈秀芳,徐现刚. 6H-SiC单晶表面ZnO薄膜的制备及其结构表征[J]. 无机材料学报, 2008, 23(4): 753-757.